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产品简介 UV-B型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性
产品简介
UV-B型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过
严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模
集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
技术参数
项目 :参数(双通道，双探头）
波长范围λ1，峰值波长λp:（230～275）nm，λP＝254nm
波长范围λ2，峰值波长λp:（275～330）nm，λP＝297nm
辐照度测量范围:(0.1～199.9×103) μW/cm2
紫外带外区杂光:UV254<0.1%，UV297<0.05%
相对示值误差:±8％（相对于NIM标准）
角度响应特性:±5% （α≤10°）
线性误差: ±1%
换档误差: ±1%
短期不稳定性:±1%（开机30min后）
疲劳特性: 衰减量<2%
零值误差: 满量程的±1%
响应时间: <1秒
使用环境: 温度(0~40)℃；湿度＜85％RH
尺寸和重量:160mm×78mm×43mm；0.2kg
电源: 6F22型9V积层电池（非充电电池）
整机功耗: ＜0.1VA
配置: 主机、254探头、297探头、探头盖2个、数据线、说明书、合格证、9V电池等
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山东省济南市章丘区
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